Scanning Probe System SP-80 | Baoka2
Описание
Scanning probes can acquire several hundred surface points each second, enabling measurement of form as well as size and position.Scanning probes can also be used to acquire discrete points in a similar way to touch-trigger probes.A range of solutions is available, suitable for all sizes and configurations of CMM.
- Артикул: Baoka2
-
Цена по запросу
В сравнение
Доставка
Срок поставки от 2 недель.
— Бесплатная доставка до терминала тк;
— Доставим любым удобным и выгодным для вас способом;
Получить консультацию
+7 (499) 673-00-78
info@imperial-tools.ru
Оплата
— Наличный расчет;
— Без наличный расчет;
— Банковский перевод;